Большая техническая энциклопедия
2 7
A V W
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я
ИГ ИД ИЕ ИЗ ИК ИЛ ИМ ИН ИО ИП ИР ИС ИТ

Измерение - микронеровность

 
Измерение микронеровностей основано на интерференции света, для получения которой необходимо наличие двух когерентных пучков лучей, имеющих волны одной частоты.
Профилограф-профилометр модели 201. Измерения микронеровностей поверхности возможны в пределах 5 - 14-го классов шероховатости, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм.
Профилограф-профилометр 201 завод Калибр. Измерения микронеровностей поверхности возможно в пределах 5 - 14-го классов чистоты, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм.
Схема профилометра конструкции В. М. Киселева.| Двойной микроскоп конструкции В. П. Линника. Для измерения микронеровностей в пределах от 4-го до 14-го классов чистоты поверхности применяют профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы.
Для измерения микронеровностей применяют также профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. Возбуждаемые этим перемещением малые токи усиливаются и отмечаются гальванометром.
Для измерения микронеровностей от 0 1 до 6 мкм с увеличением от 400 до 500 применяют микроинтерферометр МИИ-1 В.
Для измерения микронеровностей на МИИ-4 требуется определить стрелу прогиба а интерференционной полосы в долях интервала между полосами Ь и результат умножить на 0 275 мк.
Схема профилографа ИЗП-17 конструкции Б. М. Левина.| Схема профй. Для измерения микронеровностей в пределах от 4-го до 14-го класса чистоты поверхности применяют профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы.
Для измерения микронеровностей обычно применяется один из оптических методов - фотографический или визуальный. В тех случаях, когда необходимо для данной поверхности наиболее точно определить значения критерия НСр или Нск, применяют фотографический метод. В случае фотографического метода измеряемая поверхность с помощью прибора МИС-11 или МИИ-1 фотографируется.
Глубина рисок, от износа появившихся на профиле зуба при испытании синтетических масел № 1 и № 2.| Изменение качества поверхности зуба при испытании синтетического масла № 1.| Интенсивность износа зуба по профилю при испытании синтетического масла № 1. При измерении микронеровностей в одной и той же точке в монохроматическом или белом свете отклонения измеряемой величины находятся в пределах ошибки измерения на микроинтерферометре.

Обеспечение единства измерений микронеровностей поверхности является весьма важным и актуальным. Известно, что оптические и щуповые приборы существенно отличаются друг от друга. Основой процесса ощупывания является наличие механического контакта между измеряемой поверхностью и чувствительным элементом прибора, в то время как в оптическом приборе используется явление интерференции или способ светового сечения. Это отличие и сказывается на показаниях щуповых и оптических приборов.
Профилографы предназначаются для измерения микронеровностей методом ощупывания профиля поверхности иглой с записью профилограммы.
Принцип работы профилометров основан на измерении микронеровностей поверхности путем ощупывания ее алмазной иглой. При перемещении иглы по поверхности обработанной детали игла вследствие неровностей поверхности колеблется вдоль своей оси, причем частота и амплитуда ее колебаний соответствуют шагу и высоту неровностей. Прибор имеет электрическое устройство со специальными датчиками, с помощью которого.
Существуют два основных метода оценки и измерения микронеровностей - метод абсолютного или количественного контроля и метод относительного или качественного контроля.
Шероховатость ( класс шероховатости) поверхности оценивается путем измерения микронеровностей различными приборами, к числу которых относятся следующие основные: профилометры, профилографы, оптические приборы.
Двойной микроскоп. Прибор теневого сечения ПТС-I по принципу действия аналогичен двойному микроскопу и предназначен для измерения микронеровностей в диапазоне от 80 до320лг / ои. Прибор выполнен накладным, что позволяет контролировать детали без снятия их со станка.
Применяемый метод градуирования должен обеспечить не только необходимую точность, но и единство измерений микронеровностей поверхности как при измерении чистоты оптическими приборами ( МИС-11, МИИ-1), так и при измерении щуповыми приборами.
В цеховых условиях удобно применять профило-метры и, в частности, профилометр В. М. Киселева ( рис. 179 а), который предназначен для измерения микронеровностей от 5 до 12-го классов чистоты. Этот профилометр основан на методе ощупывания.
Экспериментальные кривые, характеризующие влияние контактного сопротивления на величину общего омического сопротивления электрической. Современная техника позволяет с достаточной точностью определять параметры микрогеометрии поверхности путем графического интегрирования профилограмм [9], полученных с помощью специальных приборов для измерения микронеровностей.
Контроль чистоты поверхности при помощи измерительных приборов должен производиться в направлении, которое дает наибольшее значениеЯск или Нср, если в технических условиях на данное изделие не указано определенное направление измерения микронеровностей.
Чистота поверхности при различных методах обработки. Контроль чистоты при помощи измерительных приборов необходимо производить в направлении, которое дает наибольшее значение Нск или Нср, если в технических условиях на данное изделие не указано определенное направление измерения микронеровностей.
Контроль чистоты при помощи измерительных приборов должен производиться в направлении, которое дает наибольшее значение Нск или Нср, если в технических условиях на данное изделие не указано определенного направления измерения микронеровностей.

Качество отделки рабочих и нерабочих поверхностей режущих инструментов может быть оценено в лабораторных условиях при помощи специальных приборов. В заводских условиях оно определяется методом сравнения с эталонами чистоты поверхности. Оценка качества поверхности определяется посредством измерения микронеровностей перпендикулярно направлению штрихов обработки. В стандартах на технические условия приведены данные по качеству поверхностей инструментов, которые должны быть соблюдены при приемке.
Образец для визуального определения шероховатости поверхности по методу сравнения. Оценка шероховатости поверхности осуществляется качественным или количественным методами. Качественный метод оценки шероховатости основан а сравнении обработанной поверхности с образцом шероховатости - поверхности. Количественный метод оценки основан на измерении микронеровностей специальными приборами.
Чтобы проникнуть во все впадины, игла должна иметь малый радиус закругления. Чтобы быть долговечной, игла должна иметь большой радиус закругления. Испытания показали, что показания приборов не изменяются для игл с радиусом от 1 5 до 30 мк, хотя характер профилограммы несколько изменяется. Поэтому применение радиусов 1 5 и 2 5 мк не следует считать рациональным. Такие иглы мало прочны, быстро выламываются и истираются. Так как любая игла в процессе измерения микронеровностей изнашивается и радиус ее увеличивается, то наиболее рациональным является применение игл с радиусом 10 - 12 мк.
 
Loading
на заглавную 10 самыхСловариО сайтеОбратная связь к началу страницы

© 2008 - 2014
словарь online
словарь
одноклассники
XHTML | CSS
Лицензиар ngpedia.ru
1.8.11