Большая техническая энциклопедия
2 7
A V W
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я
РА РЕ РИ РО РТ РУ РЫ РЯ

Реальный интерферометр

 
Реальный интерферометр Фабри - Перо.
В реальных интерферометрах чувствительность ограничивается рядом причин. Во-первых, увеличение числа N3 ограничено ошибками изготовления поверхностей П и Я2; во-вторых, не все лучи из числа М ф могут попасть из клинообразной пластины в интерференционное поле, если угловое расхождение лучей больше угловой апертуры приемной оптической системы; в-третьих, реальные металлические покрытия имеют заметное поглощение, которое значительно снижает яркость картины ( в проходящем свете) и увеличивает ошибку регистрации полос.
В книге изложена теория реальных интерферометров Фабри - Перо и нитерферо-метрических установок при когерентном н некогерентном освещениях. Описано применение неидеальных интерферометров для извлечения информации о контурах спектральных линий, нх ннтеисивностях, полуширинах, положении в спектре и параметрах фойхтовского контура. Приведены многочнслеиные таблицы аппаратного и наблюдаемого контуров н примеры нх использования.
Вместе с тем элементы реального интерферометра могут обладать дисперсией, причем в ряде случаев ( иногда преднамеренно) дисперсия в различных плечах не компенсируется.
Последнее связано с тем, что в реальном интерферометре максимальное время задержки т ограничено.
Приведенные ниже таблицы позволяют построить аппаратный контур ( АК) реального интерферометра Фабри - Перо ( ИФП), АК. Собственный контур ( СК) спектральной линии предполагается фойхтовским. С некоторых случаях с помощью таблиц П6 и П7 можно определить параг метры дисперсионной и гауссовских составляющих фоихтовского собственного контура спектральной линии. Используя данные, помещенные в семи таблицах, можно построить АК и НК для приведенных ниже случаев.
Увеличение коэффициента отражения зеркал служит мощным средством повышения разрешающей силы, но возможности ее увеличения ограничены в реальном интерферометре несовершенством его поверхностей. Непараллельность отражающих поверхностей, а также их дефекты изменяют распределение интенсивности, создаваемое идеальным интерферометром. Форма максимума в несовершенном интерферометре определяется суммой максимумов, создаваемых отдельными участками; его поверхности, которые можно считать параллельными. Так как общее количество света, приходящегося на одно кольцо, одинаково и для идеального, и для реального интерферометра, то в последнем случае ширина контура окажется больше, а высота максимума меньше. Поэтому неточность изготовления поверхностей и плохая юстировка снижают реальную разрешающую силу и интенсивность света в максимуме.
Принципиальная схема формирования интерференционной картины в ИФП. В этом параграфе будут кратко изложены основные сведения из теории идеального ИФП и принципы расчета аппаратного контура ( АК) реального интерферометра.
Чем определяются контрастность и резкость интерференционной картины в идеальном интерферометре Фабри-Перо. Что ограничивает возможности повышения этих параметров в реальном интерферометре.
Приведем в заключение этого параграфа метод расчета АК реального ИФП при когерентном освещении для случая, когда на формирование АК оказывают одновременное влияние не -, сколько факторов. Для расчета такого влияния достаточно заметить, что формулы (3.16) содержат в выражениях для QI ( Y) и Qz ( y) разложение в ряд Фурье амплитуды светового потока, прошедшего через реальный интерферометр. Qi ( v) и Q2 ( v) на коэффициент Фурье, характеризующий каждый новый дефект ИФП.
За начало координат обычно принимают точку максимума интенсивности. При рассмотрении теории интерферометра Фабри - Перо была получена формула, описывавшая распределение интенсивности в интерференционной картине. В реальных интерферометрах будет наблюдаться распределение, несколько отличное от теоретического. Это может быть обусловлено дефектами пластинок интерферометра и неточностями их установки. Но, несмотря на это, упомянутая формула дает приближение, вполне достаточное для решения обычных задач, связанных с распределением интенсивности.
Схема зеркал Френеля с источником света в виде щели. Контраст полос является одной из главных характеристик интерференционного поля. Только в идеальном интерферометре достигается максимальный контраст, равный единице. Рассмотрим основные причины понижения контраста полос в реальном интерферометре.
Изменение контраста.
Контраст превышает 0 9, если d меньше Я / 4р и равен нулю, если d достигает Я / р В первом случае говорят о допустимом контрасте и допустимой ширине источника, во втором - о критической ширине источника света. Выбор величины К 0 9 во многом случаен. По этой причине целесообразно рассчитывать критический размер источника света, а затем в реальном интерферометре уменьшать его до достижения такого контраста, который обеспечит надежную регистрацию картины.
Увеличение коэффициента отражения зеркал служит мощным средством повышения разрешающей силы, но возможности ее увеличения ограничены в реальном интерферометре несовершенством его поверхностей. Непараллельность отражающих поверхностей, а также их дефекты изменяют распределение интенсивности, создаваемое идеальным интерферометром. Форма максимума в несовершенном интерферометре определяется суммой максимумов, создаваемых отдельными участками; его поверхности, которые можно считать параллельными. Так как общее количество света, приходящегося на одно кольцо, одинаково и для идеального, и для реального интерферометра, то в последнем случае ширина контура окажется больше, а высота максимума меньше. Поэтому неточность изготовления поверхностей и плохая юстировка снижают реальную разрешающую силу и интенсивность света в максимуме.
 
Loading
на заглавную 10 самыхСловариО сайтеОбратная связь к началу страницы

© 2008 - 2014
словарь online
словарь
одноклассники
XHTML | CSS
Лицензиар ngpedia.ru
1.8.11