Большая техническая энциклопедия
2 7
A V W
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я
ИГ ИД ИЕ ИЗ ИК ИЛ ИМ ИН ИО ИП ИР ИС ИТ

Измерение - относительная интенсивность - спектральная линия

 
Измерение относительной интенсивности спектральных линий, испускаемых одним и тем же атомом или одним и тем же ионом, но соответствующих разным степеням возбуждения, может быть использовано для грубой оценки электронной температуры. Предположим, что для появления одной из спектральных линий нужно сообщить атому ( или иону) энергию возбуждения W, а для появления другой линии - более высокую энергию W. Интенсивность каждой из этих линий зависит от того, сколько электронов плазмы, принадлежащих к максвелловскому распределению, будут иметь энергию, достаточную для осуществления первичного процесса возбуждения.
Измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов позволяет оценить их количественное содержание. Количественный эмиссионный анализ основан на прямолинейной зависимости, существующей между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе.
Оптическая схема инфракрасного спектрометра HR-10. Микрофотометр МФ-2 предназначен для измерения относительной интенсивности спектральных линий в спектрах, снятых на фотографическую пластинку.
Фотографический метод регистрации спектра и измерения относительной интенсивности спектральных линий является даже в настоящее время основным при качественном и количественном эмиссионном анализе.
Задачи количественного эмиссионного анализа включают измерение относительных интенсивностей спектральных линий обнаруженных элементов, что позволяет оценить их концентрацию, так как существует прямолинейная зависимость между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и содержанием его в исследуемой пробе.
К определению.| К определению относительных интенсивностейг двух линий по двум кривым. Этот способ позволяет решать задачу измерения относительных интенсивностей спектральных линий, находящихся в различных областях спектральной чувствительности фотоэмульсий. Для этой цели необходимо знать кривую спектральной чувствительности данной фотоэмульсии. Под спектральной чувствительностью понимается, величина, обратная экспозиции Н монохроматического излучения, выраженной в эргах и приходящейся на 1 см2 поверхности эмульсии, которая необходима для получения плотности почернения, на единицу превышающей плотность вуали. EZ соответственно, которые вызывают почернение D над.
В основе методов количественного спектрального анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента 1 и элемента внутреннего стандарта / 2, или элемента сравнения.
В основе большинства современных методов количественного анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения, находящегося в той же пробе.
В основе всех современных методов количественного анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения, находящегося в той же пробе.
К числу наиболее распространенных относятся способы, основанные на измерении относительной интенсивности соответствующих спектральных линий, принадлежащих одному элементу.
Изменение этих величин от опыта к опыту может привести к ошибкам в измерениях относительных интенсивностей спектральных линий. Поэтому при применении фотографической фотометрии могут быть учтены характер освещения и время экспонирования там, где это необходимо.
На основании этого соотношения Орнштейном разработан спектроскопический метод определения температуры, который базируется на измерении относительных интенсивностей спектральных линий вращательной структуры молекулярных полос или атомных эмиссионных линий.
Стилометр СТ-7 ( рис. 255) отличается от стилоскопов наличием визуального фотометра, позволяющего производить измерения относительных интенсивностей спектральных линий. Действие спектральной части прибора ( 1 - 10) ясно из рисунка.

Стилометрами названы такие спектроскопы, которые позволяют не только рассматривать спектр исследуемого металла, но и производить измерение относительных интенсивностей спектральных линий.
Показатель р может иметь значения р 1 и р 1 в зависимости от характера освещения. Выражение (7.5.9) лежит в основе измерения относительных интенсивностей спектральных линий.
Описаны различные способы измерения температуры плазмы дугового разряда. Наиболее распространенные способы основаны на измерении относительной интенсивности спектральных линий атомов или ионов, принадлежащих одному атому одного и того же элемента.
При исследовании линейчатых спектров фотографическим методом часто на фотографии спектра вместе со спектральными линиями присутствует п непрерывный спектр. Если интенсивность непрерывного спектра соизмерима с интенсивностью линий, то точность измерения относительной интенсивности спектральных линий уменьшается. Но поскольку зависимость освещенности линейчатого и непрерывного спектра от параметров спектрального прибора различна, то изменением некоторых из них можно изменять относительную интенсивность линий на фоне непрерывного спектра.
 
Loading
на заглавную 10 самыхСловариО сайтеОбратная связь к началу страницы

© 2008 - 2014
словарь online
словарь
одноклассники
XHTML | CSS
Лицензиар ngpedia.ru
1.8.11